Byte-Generator

Die Schaltung wurde entworfen, um zu Testzwecken den Prototyp eines Digital-Analog-Wandlers manuell mit digitalen Kodes zu versorgen. Danach wurde der Byte-Generator modifiziert, um einen opto-isolierten Low-side-Schalter zu überprüfen, der einen Transistor-Treiber mit offenem Kollektor benötigt. Und schließlich wurde aus der Behelfsschaltung ein echtes Testgerät.
Entwurf von Adrian Grace
Der Ausgangspunkt der Schaltung in Bild 1 ist der 8-fache DIP-Schalter SW1, der in einer DIL-Fassung steckt. Sind die Schalter geschlossen, verbinden sie die Eingänge von IC1 mit Masse, ansonsten sorgen die Pull-up-Widerstände (4,7 k), die gemeinsam im SIL-Array R1 stecken, diese Eingänge mit +5 V. Jede der Leitungen ist auch mit K1 verbunden, einem 1x10-poligen oder 2x10-poligen Pfostenverbinder.

Byte-Generator

Widerstände:

R1 =8x4k7 SIL-Widerstandsarray

R2 = 8x470 SIL-Widerstandsarray

Halbleiter:

D1...D8 = LED, high efficiency

IC1 = 74LS245 oder 74HCT245

IC2 = ULN2801A

Außerdem:

K1 = 2x10-poliger Pfostenverbinder

K2 = 1x10-poliger Pfostenverbinder

K3 = 1x11-poliger Pfostenverbinder

K4 = 1x3-poliger Pfostenverbinder

Erweiterung

Widerstand:

R1 = 4k7

Kondensator:

C1 = 100 n

Halbleiter:

D9 = 1N4148

IC1 = 74HCT4040

Außerdem:

K5 = 2x10-poliger Pfostenverbinder

20poliges Flachbandkabel mit Aufpressverbindern (K5-K1)